Intel’in donanım güvenliği ödüllerine layık görülen çalışmada bir Türk de var

TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesinden (TOBB ETÜ) yapılan açıklamaya göre, Intel, donanım güvenliğine katkı yapan akademik çalışmaları 2021’den bu yana ödüllendiriyor.

Şirket, en az 10 yıl önce yayımlanıp donanım güvenliği alanını kalıcı olarak etkileyen çalışmalara Kalıcı Etki Ödülü (Test of Time Award) veriyor. Ödüle bu yıl, satır darbelemeyi (RowHammer) ilk kez ortaya koyan 2014 tarihli “Flipping Bits in Memory Without Accessing Them” başlıklı çalışma layık görüldü.

Yoongu Kim, Ross Daly, Jeremie Kim, Chris Fallin, Ji Hye Lee, Donghyuk Lee, Chris Wilkerson, Konrad Lai ve Türk bilgisayar bilimcisi Prof. Dr. Onur Mutlu’nun birinci yazar olduğu çalışma, dünyanın üç büyük bellek üreticisinden sınanan bellek modüllerinin yüzde 80’inden fazlasında satır darbelemenin ortaya çıktığını göstermişti.

Intel, çalışmayı, satır darbeleme adıyla bilinen DRAM bozulma hatalarını ilk kez gözler önüne seren çığır açıcı bir araştırma olarak tanımladı.

Son iki yılda yayımlanan çalışmalara verilen Güncel Yayın Ödülü’nü (Recent Publication Award) de Oğuzhan Canpolat, Giray Yağlıkçı, Geraldo F. Oliveira, Ataberk Olgun, Nisa Bostancı, İsmail Emir Yüksel, Haocong Luo, Prof. Dr. Oğuz Ergin ve Prof. Dr. Onur Mutlu’nun imzasını taşıyan “Chronus: Understanding and Securing the Cutting-Edge Industry Solutions to DRAM Read Disturbance” başlıklı bildiri kazandı.

Satır darbeleme açığına karşı sanayinin geliştirdiği en yeni korumayı 11 yıl sonra inceleyip güçlendiren çalışma için ödülü, törende yazarlar adına Giray Yağlıkçı aldı. Chronus’un dokuz yazarından yedisi Türk, beşi de TOBB ETÜ’de Prof. Dr. Oğuz Ergin’in öğrencisi olarak yetişti.

Chronus’un baş yazarı Oğuzhan Canpolat, Oğuz Ergin’in yönettiği TOBB ETÜ Kasırga Mikroişlemciler Laboratuvarının mikroişlemci tasarım takımında yetişti. Chronus, Canpolat’ın TOBB ETÜ’de Ergin’in danışmanlığında yürüttüğü yüksek lisans tezinin konusuydu.

Chronus’un 9 yazarından 5’i Kasırga’da yetişti. Kasırga takımları, TEKNOFEST Çip Tasarım Yarışması’nda 4 yıl üst üste toplam 5 birincilik kazandı.